Intel代工从生存转向进攻!14A制程缺陷密度快速降低:创22nm以来最佳
发布时间:2026-09-27 08:28:38 点击量:202
或在相同性能下降低25%至35%功耗,代度快低创
Zinsner还透露,生存速降而非两代工艺最终缺陷密度或量产良率的转向A制最佳直接对比。
进攻进攻2012年应用于Ivy Bridge处理器,程缺下一代14A制程的陷密缺陷密度下降速度创下22nm以来的最佳表现,规格方面,代度快低创被公认为公司历史上最成功的生存速降制程之一。过去主要查看技术数据,转向A制最佳芯片密度最高增加30%。进攻新一代PowerDirect背面供电技术,程缺Intel CFO David Zinsner近日在德意志银行2026科技大会上宣布,陷密外部客户的代度快低创态度也发生了转变,Intel内部芯片设计团队已开始基于14A开发产品,生存速降”
22nm是转向A制最佳Intel首个导入FinFET架构的制程节点,Intel 14A目前的缺陷密度不仅优于公司内部设定的目标曲线,14A在相同功耗下性能预计提升15%至20%,下降速度也超过此前多个制程节点。我们没有见过这样的表现。根据Intel技术路线图,这一比较聚焦于14A开发阶段的缺陷下降轨迹, 8月31日消息,
Zinsner表示,
不过需要指出的是,“自22nm以来,Intel 14A较18A实现全面跃升,外部代工客户态度已从技术评估转向产能问询。采用第二代RibbonFET环绕栅极晶体管、并规划导入High-NA EUV光刻设备。如今开始询问“能拿到多少产能”“生产安排时间如何”。
他以22nm作为参照称,
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